Sumários
Elipsometria
24 Novembro 2025, 14:00 • Jorge Correia
Elipsometria (cont): Medidas ex-situ e in-situ e sua modelação. Elipsometria monocromática, espectroscópica e de imagem. Crescimento de filmes homogéneos transparentes e absorsores e sua simulação. Exemplos de análise de superfícies por elipsometria espectroscópica ex-situ e de crescimento de filmes por elipsometria monocromática ex-situ e in-situ. A elipsometria como técnica analítica. Relevância da aplicação de elipsometria de imagem a biosensores.
Elipsometria
17 Novembro 2025, 16:00 • Jorge Correia
Elipsometria: Teoria da reflexão da luz; coeficientes de reflexão de Fresnel, desvio de fase, ângulo azimutal e equação fundamental da elipsometria. Pârametros elipsométricos e propriedades ópticas. Interface substrato-ambiente e substrato-filme-ambiente. Sensibilidade à espessura de um filme e abordagem experimental na medida elipsométrica. Isotropia e anisotropia; abordagens para análise dos dois tipos de materiais. Homogeneidade dos filmes e sua modelação.
Efeito Miragem
17 Novembro 2025, 14:00 • Jorge Correia
Efeito Miragem (cont): O efeito miragem como técnica de medida dos fluxos de massa na região adjacente ao eléctrodo. Avaliação qualitativa de um deflectograma. Funções de transferência e convolução temporal para uma análise quantitativa do transporte de massa. Dados exemplos de análise quantitativa do processo de electropolimerização e da conversão redox de polímeros condutores em baterias.
Efeito Miragem
10 Novembro 2025, 16:00 • Jorge Correia
Efeito miragem: Técnica de deflexão de feixe laser e sua complementaridade com o EQCM.