Bloco III - métodos de caracterização ótica
23 Novembro 2020, 13:30 • Olinda Coelho Monteiro
Nanopartículas cristalinas de materiais semicondutores
- métodos de caracterização
- avaliação das propriedades óticas e estruturais
Nanopartículas suportadas em matriz inerte: como caracterizar este tipo de materiais nanocristalinos
Métodos de caracterização ótica de estruturas nanocristalinas
- Teoria de Schuster-Kubelka-Munk
- Técnicas instrumentais de reflectância difusa
- DRS e DRIFTS