Técnicas de difração e Espectroscopia de fotoelectrões-X

13 Outubro 2016, 09:00 • Maria da Estrela Borges de Melo Jorge

Refinamento da estrutura e método de Rietveld. Informação cristalográfica e magnética. Metodologia de refinamento. Exemplo. Análise dos ficheiros output e correlação dos parâmetros estruturais obtidos com algumas propriedades exibidas pelos materiais em análise. Quantificação de fases. Difracção electrónica e microscopia electrónica de transmissão. Vantagens e desvantagens. Exemplos. Difracção de neutrões. Vantagens e desvantagens. Exemplos. Espectroscopia de fotoelectrões-X (XPS). Informações a obter a partir do XPS; análise qualitativa e quantitativa. Exemplos.