Microscopia de Força Atómica e Varrimento de Sonda

24 Outubro 2017, 13:30 • Ana Pimenta da Gama da Silveira Viana

Fundamentos das Técnicas de Microscopia de Varrimento de Sonda: Microscopia de Efeito de Túnel e de Força Atómica (STM/AFM). Diferentes modos de operação das técnicas de STM e AFM.

Sondas e “artefactos”. Outras técnicas dentro da microscopia de varrimento de Sonda (ex. Microscopia de Força Química e Magnética). Curvas de Força em AFM. Vantagens e desvantagens das técnicas de varrimento de sonda.