Programa

Microscopia de Varrimento por Sonda

Doutoramento Bolonha em Engenharia Física

Programa

1. Introdução às técnicas de MVS: abordará os aspetos comuns a todas as técnicas de varrimento por sonda, tais como o scanner, as pontas, o controlo proporcional integral, vantagens e desvantagens entre outros. 2. Forças e interações: neste capítulo olharemos para as forças e interações comuns às técnicas de varrimento tais como forças de van der Waals, forças eletrostáticas e magnéticas no contexto destas técnicas, repulsão entrópica e efeito túnel em metais e semicondutores. 3. O capítulo princípios físicos da microscopia de força atómica, abordará aspetos da mecânica do cantilever na presença de interações em regime linear e não linear. Abordará também o estudo da resposta de um cantilever submetido a uma força capacitiva alternada, geração de segunda harmónica e aplicação à microscopia de potencial elétrico. 4. Aulas práticas: nestas aulas o aluno terá a possibilidade de utilizar instrumentos que lhe permitam realizar a) microscopia de força atómica, b) microscopia de força magnética, c) microscopia de potencial elétrico e d) microscopia por efeito túnel.