Nanomedição: ferramentas.
3 Outubro 2017, 13:00 • Hugo Alexandre Teixeira Duarte Ferreira
Microscopia óptica e electrónica (SEM, TEM); técnicas STM, AFM, MFM; difração raios-X; XPS.
3 Outubro 2017, 13:00 • Hugo Alexandre Teixeira Duarte Ferreira
Microscopia óptica e electrónica (SEM, TEM); técnicas STM, AFM, MFM; difração raios-X; XPS.