Plano de Estudos
Laboratório Avançado de Física da Matéria Condensada LAFMC
Contextos
Groupo: 1_MFA 2023/24 > 2º Ciclo > Parte Escolar > Opcionais > 657_MFA - Opção Grupo II (CFIS/ETFIS) > 2º Semestre
ECTS
6.0 (para cálculo da média)
Objectivos
A - Treinar os alunos na utilização de várias técnicas experimentais comummente utilizadas na caracterização de materiais, do ponto de vista das suas propriedades electrónicas e da utilização dos equipamentos associados. B - Introduzir os conceitos físicos subjacentes às diferentes técnicas. C - Consolidar conhecimentos sobre propriedades físicas de materiais condutores, semicondutores, supercondutores e magnéticos, introduzidos em unidades curriculares anteriores numa perspectiva mais teórica. D - Dotar os alunos de uma visão ampla e realista dos processos e etapas associados à caracterização destes materiais dando-lhes uma perspectiva clara do potencial específico de cada uma das técnicas experimentais.
Programa
1. Caracterização das propriedades físicas de materiais em função da sua natureza, dos projectos a decorrer e dos equipamentos disponíveis nas unidades de investigação associadas ao departamento de física. 2. Utilização das seguintes técnicas experimentais: microscopia de força atómica (AFM) e técnicas relacionadas; magnetometria SQUID; efeito Kerr magneto-ótico (MOKE); efeito de Hall; susceptibilidade magnética AC e DC; resistividade eléctrica;
Método de Avaliação
Para a avaliação, os estudantes realizam 4 relatórios (50%), um por experiência, uma apresentação oral (20%) e um teste final (30%). A apresentação oral incide sobre o primeiro trabalho realizado e é apresentada na primeira metade do semestre para que os outros alunos possam beneficiar da discussão associada. Todos os relatórios são discutidos dando hipótese aos alunos de os melhorarem.
Carga Horária
Carga Horária de Contacto -
Trabalho Autónomo - 112.0
Carga Total -
Bibliografia
Principal
- A Review of Magneto-Optic Effects and Its Application: Taskeya Haider 2017 International Journal of Electromagnetics and Applications, 7(1): 17-24.
- Amplitude Modulation Atomic Force Microscopy: Ricardo Garcia 2010 García, R. (2010). Amplitude Modulation Atomic Force Microscopy
- Fundamentals of magnetism and magnetic measurements featuring quantum design’s magnetic property measurement system: Mike Mcelfresh 1994 Mike Mcelfresh 1994 Mike Mcelfresh (1994) Fundamentals of magnetism and magnetic measurements featuring quantum design’s magnetic property measurement system, Quantum Design
Secundária
- Surface magneto-optic Kerr effec: Qiu, Z. Q., and Bader, S. D. 2000 Review of Scientific Instruments, 71(3), 1243–1255
- Springer Handbook of Nanotechnology: Bhushan 2010 Springer Handbook of Nanotechnology: Bhushan, 2010 (Springer Handbooks) (3rd ed. 2010 ed.)