Sumários
Resolução de exercícios
14 Novembro 2019, 11:00 • Maria da Estrela Borges de Melo Jorge
Cálculo dos parâmetros de malha e do tipo de rede para diferentes materiais.
Estrutura e Difraçao de Raios X (continuação)
14 Novembro 2019, 09:00 • Maria da Estrela Borges de Melo Jorge
Intensidadedas riscas de difração: determinação da intensidade de algumas riscas para uma estrutura cúbica simples, cúbica de corpo centrado e cúbica de faces centradas. Exemplos. Condições de reflexão e ausências sistemáticas. Outras extinções: extinções características da presença de planos deslizantes e eixos helicoidais nos grupos espaciais de simetria. Exemplos. Outras extinções (aparentes). Exemplos. Identificação de substâncias desconhecidas. Método de Hanawalt. Purezadas amostras.
Resolução de exercícios
4 Novembro 2019, 16:00 • Maria da Estrela Borges de Melo Jorge
Desenhar e determinar os índices de Miller de planos cristalográficos. Determinação de distâncias interplanares e de ângulos de difracção. Cálculo do factor de estrutura.
Estrutura e Difraçao de Raios X
4 Novembro 2019, 14:00 • Maria da Estrela Borges de Melo Jorge
Relação estrutura propriedades de diferentes materiais. Importância da caracterização dos materiais recorrendo a diferentes técnicas, em particular técnicas espectroscópicas. Breve revisão sobre estruturas cristalinas: célula unitária, sistemas cristalinos, redes de Bravais. Planos cristalográficos e índices de Miller. Distância interplanar. Métodos de difração. Produção de raios X e fontes de raios X. Difração de raios X, equação de Bragg. Intensidade das riscas de difração e factor de estrutura. Multiplicidade das riscas de difração. Factor de estrutura e factor difusão atómico.
Elipsometria II
28 Outubro 2019, 16:00 • Jorge Correia
Simulação de crescimento de filmes homogéneos por elipsometria. Dependência do índice de refracção complexo das propriedades dos materiais. Determinação in-situ e ex-situ da espessura de filmes finos por simulação de crescimento e por adequação a modelos físicos. Exemplos de utilização da elipsometria como técnica analítica e para caracterizar filmes finos depositados sobre um eléctrodo. Exemplos da utilização da elipsometria de imagem para quantificar variações locais de espessura de filmes muito finos em biosensores.