Sumários

Técnicas de difração e Espectroscopia de fotoelectrões-X

13 Outubro 2016, 09:00 Maria da Estrela Borges de Melo Jorge

Refinamento da estrutura e método de Rietveld. Informação cristalográfica e magnética. Metodologia de refinamento. Exemplo. Análise dos ficheiros output e correlação dos parâmetros estruturais obtidos com algumas propriedades exibidas pelos materiais em análise. Quantificação de fases. Difracção electrónica e microscopia electrónica de transmissão. Vantagens e desvantagens. Exemplos. Difracção de neutrões. Vantagens e desvantagens. Exemplos. Espectroscopia de fotoelectrões-X (XPS). Informações a obter a partir do XPS; análise qualitativa e quantitativa. Exemplos.

 


Resolução de exercícios

6 Outubro 2016, 11:00 Maria da Estrela Borges de Melo Jorge

2ªsérie:
Determinação de distâncias interplanares e de ângulos de difracção. 
Cálculo dos parâmetros de malha e do tipo de rede para diferentes materiais.
Determinação da intensidade de algumas riscas de difracção. 


Estrutura e Difraçao de Raios-X (continuação)

6 Outubro 2016, 09:00 Maria da Estrela Borges de Melo Jorge

- Intensidade das riscas de difracção: determinação da intensidade de algumas riscas para uma estrutura cúbica simples, cúbica de corpo centrado e cúbica de faces centradas. Exemplos. Condições de reflexão e ausências sistemáticas. Outras extinções: extinções características da presença de planos deslizantes e eixos helicoidais nos grupos espaciais de simetria. Exemplos. Outras extinções (aparentes). Exemplos. 
- Identificação de substâncias desconhecidas. Método de Hanawalt. 
- Pureza das amostras.
- Determinação dos parâmetros de malha e tipo de rede para o sistema cúbico: método da razão dos sen2q. Exemplos para redes cúbicas. Determinação dos parâmetros de malha para o sistema tetragonal. Exemplos de programas computacionais para indexação das estruturas. Exemplos. Determinação do tamanho das cristalites a partir do perfil das riscas de difracção. Método de Warren. Fórmula de Sherrer.



Resolução de exercícios

29 Setembro 2016, 11:00 Maria da Estrela Borges de Melo Jorge

1ª série:
Desenhar e calcular os índices de Miller de planos cristalográficos. Determinar distâncias interplanares e ângulos de difracção para materiais cristalinos.


Estrutura e Difraçao de Raios-X

29 Setembro 2016, 09:00 Maria da Estrela Borges de Melo Jorge

Relação estrutura-propriedades de diferentes materiais. Importância da caracterização dos materiais recorrendo a diferentes técnicas, em particular técnicas espectroscópicas. Breve revisão sobre estruturas cristalinas: célula unitária, sistemas cristalinos, redes de Bravais. Planos cristalográficos e índices de Miller. Distância interplanar. Métodos de difracção. Produção de raios-X e fontes de raios-X. Difracção de Raios-X, equação de Bragg. Intensidade das riscas de difracção e factor de estrutura. Multiplicidade das riscas de difracção. Factor de estrutura e factor difusão atómico.