Sumários
Espectroscopia de Ressonância Magnética Nuclear T1
7 Novembro 2017, 13:30 • Helena Margarida Guerreiro Galla Gaspar
Noções Básicas de Espectroscopia de Ressonância Magnética Nuclear.
Desvio químico e blindagem. Interpertação de espectros de RMN 1H de compostos orgânicos. Factores que influênciam o desvio químico. Acoplamento homonuclear. Multipliciade de sinais e acoplamento spin-spin. Constantes de acoplamento. Regras de acoplamento para protões equivalentes e não equivalentes. Equivalência Magnética/Equvalência Química. Protões homotópicos, enantiotópicos e diasterotópicos. Sistemas de Spins e nomeclatura de Pople. Integração dos sinais e quantificação relativa por RMN de 1H. Protões labéis e factores que influenciam o seu desvio químico. Acoplamento heteronuclear no espectro de RMN 1H. Isotopomeros. Acoplamento 1H -13C e satélites 13C. Acoplamento 1H- 19F e 1H-D.
Microscopia de Força Atómica e Efeito de Túnel. Técnicas Voltamétricas (conclusão)
31 Outubro 2017, 15:30 • Ana Pimenta da Gama da Silveira Viana
Resolução de exercícios sobre microscopia de varrimento de Sonda (AFM e STM).
Demonstração laboratorial das técnicas voltamétricas e de microscopia
31 Outubro 2017, 13:30 • Ana Pimenta da Gama da Silveira Viana
Visita ao laboratório para acompanhar experiências de voltametria cíclica e de microscopia de força atómica (AFM).
Microscopia de Força Atómica e Efeito de túnel.
24 Outubro 2017, 15:30 • Ana Pimenta da Gama da Silveira Viana
Aplicações das técnicas de microscopia de varrimento de sonda: imagens com resolução atómica/molecular; informação química da superfície; imagens de contraste fase, visualização de alterações superficiais em tempo real e de amostras biológicas.
Microscopia de Força Atómica e Varrimento de Sonda
24 Outubro 2017, 13:30 • Ana Pimenta da Gama da Silveira Viana
Fundamentos das Técnicas de Microscopia de Varrimento de Sonda: Microscopia de Efeito de Túnel e de Força Atómica (STM/AFM). Diferentes modos de operação das técnicas de STM e AFM.
Sondas e “artefactos”. Outras técnicas dentro da microscopia de varrimento de Sonda (ex. Microscopia de Força Química e Magnética). Curvas de Força em AFM. Vantagens e desvantagens das técnicas de varrimento de sonda.