Sumários
Microscópios
21 Novembro 2017, 16:00 • João Miguel Pinto Coelho
Microscópios: elementos constituintes e equações características (determinação de posicionamento dos componentes e ampliação). Exemplo de aplicação em ZEMAX.
Propagação e Difracção
21 Novembro 2017, 14:00 • José Manuel Rebordão
RADIOMETRY
Imaging chain model: from the irradiance due to the source to the digital number at sensor after ADC, including some noise factors.
BIBLIOGRAPHY
Goodman, Introduction to Fourier Optics, section 2.3.
DIFRACTION
Review of basic aspects of linear system theory.
From Maxwell to the Helmoltz equation, complex amplitude and Huygens-Fresnel principle.
Fresnel and Fraunhoffer aproximations: mathematics, validity.
Fourier transform and modelling of propagation at the Fraunhoffer approximation.
BIBLIOGRAPHY
Goodman, Introduction to Fourier Optics, ch. 4, 5, 6
SHORT PRESENTATIONS, BY STUDENTS
Sara Santos, "Microscopic Tuneling Microscope"
Miguel Coelho, "Hyperspectral Imaging"
Importância da abertura do feixe incidente numa lente convergente.
14 Novembro 2017, 17:00 • João Miguel Pinto Coelho
Importância da abertura do feixe incidente numa lente convergente (ficha 26).
Telescópios (cont.)
14 Novembro 2017, 16:00 • João Miguel Pinto Coelho
Telescópios refractores (continuação). Projeto e implementação em Zemax de telescópios dióptricos (ou refractores) - Exemplos.
Radiometria
14 Novembro 2017, 14:00 • José Manuel Rebordão
RADIOMETRIA
Revisão de grandezas radiométricas básicas.
Fotometria: conceito, relevância da resposta espectral dos detectores; grandezas fotométricas; normas CIE.
Lei de Plank e derivadas e seu estatuto em termos das variáveis radiométricas.
Corpos cinzentos, emissividade e temperatura de brilho.
Conceitos de sistema: fonte, alvo, fundo, meio, instrumento e detector; relevância dos fenómenos de emissão e scattering; contaminação espectral e angular por força dos fenómenos de luminescência e de scattering.
Atmosfera e radiação solar: principais propriedades ópticas.
BRDF: Conceito; definição; tipos de geometria fonte / detector; definição; níveis de integração; conceito de albedo; aplicações.
BIBLIOGRAFIA
Ver referências gerais dadas na aula anterior.
APRESENTAÇÕES CURTAS DE ALUNOS
Alexandra Boinas, " Microscopia de alta-resolução: abordagem pontilhística"