Sumários
Aula PL 4. Caracterização de Materiais Cristalinos por Calorimetria Diferencial de Varrimento (parte 1)
20 Outubro 2025, 14:30 • Ricardo Alexandre Gravata Simões
Os produtos preparados anteriormente, assim como os
seus percursores, foram caracterizados com recurso à técnica de DSC (Calorimetria Diferencial de Varrimento).
Análise Térmica
20 Outubro 2025, 13:30 • Carlos Eduardo Sabino Bernardes
Estabilidade de
fases cristalinas. Diagrama de Fases Energia vs. Temperatura: Sistemas
Monotrópicos e Enantiotrópicos. Análise Térmica: Termomicroscopia, Termogravimetria
e Calorimetria Diferencial de Varrimento.
Difração de Raios-X de Pós
16 Outubro 2025, 08:00 • Carlos Eduardo Sabino Bernardes
Características
dum padrão de difração de raios-X de pós de fases cristalinas e misturas. Relação
entre a posição dos picos de difração e o espaçamento dos planos de difração
(lei de Bragg). Componentes de um difratómetro e preparação de amostras. Estudo
de reações em experiências “estáticas” e com resolução temporal. Efeito de
orientações preferenciais: identificação do problema e soluções.
Aula PL 3. Caracterização de Materiais Cristalinos por Difração de Raios-X de Pós (parte 2)
13 Outubro 2025, 14:30 • Ricardo Alexandre Gravata Simões
Os produtos preparados anteriormente, assim como os
seus percursores, foram caracterizados com recurso à técnica de difração de
raios-X de pós.
4ª aula de Difração de raios-X por cristal único
13 Outubro 2025, 13:30 • Carlos Eduardo Sabino Bernardes
Passos de uma
determinação estrutural: 1. Preparar e avaliar os cristais- cristalização,
montagem e centragem de cristais na cabeça goniométrica. Testar a qualidade do
cristal. 2. Recolha dos dados de difração-determinar a célula unitária e
sistema cristalino. Métodos de deteção e recolha de dados. Definição de
resolução e sua importância. 3. Processar os dados de difração- Fazer a redução
de dados e aplicar correções tais como escalonamento e correção de absorção. 4.
Resolução da estrutura- aplicação de métodos diretos e de patterson e mistos:
SHELX, OLEX and CRYSTALS. 5. Refinamento - determinação precisa de coordenadas
atómicas e fatores de temperatura. 6. Validar e verificar a estrutura-
Indicadores Estatísticos e Técnicas de Validação. Ficheiro CIF. 7. Análise
estrutural - Distâncias, ângulos, gráficos e fatores de confiança.