Sumários

Interferómetros (II)

14 Novembro 2025, 15:30 • João Miguel Pinto Coelho

Interferómetro Michelson (Grupo JC4). 
Alinhamento do interferómetro de Michelson; variação micrométrica de um dos espelhos com um elemento piezoeléctrico. Calibração do elemento piezoelétrico considerando o comprimento de onda do feixe laser utilizado.

Interferómetro Mach-Zehnder (Grupo JC3).
Observação dos padrões de interferência e do efeito de alterações no percurso óptico.  Implementação de situações demonstrativas da aplicação do interferómetro (ponta de um ferro, lamela sobre tensão mecânica, etc.).

Interferometria - (JMR-3 & 4)

12 Novembro 2025, 15:00 • José Manuel Rebordão

Interferómetro de Michelson: alinhamento. Franjas versus geometria. Variação micrométrica de um dos espelhos com um micrómetro piezoeléctrico e/ou manual. Determinação do CDO do laser. Introdução de valores muito diferentes da OPD e apreciação visual da Visibilidade das franjas de interferência. Relação com a coerência da fonte laser.
Interferómetro de Mach-Zhender: alinhamento. Utilização com ondas esféricas e ondas planas (após colimação). Análise de chama de vela, ar aquecido turbulento, lâmina de faces (nominalmente) paralelas. As variações de fase mensuráveis como integrais de linha do OPD ao longo da direcção do feixe que trans-ilumina o objecto.
 
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Polarização: Leis de Brewster e de Malus. Identificação de lâminas de atraso
BIBLIOGRAPHY
Malacara, Optical Shop Testing

Electroóptica. Moduladores

12 Novembro 2025, 08:30 • José Manuel Rebordão

Numeração das componentes do tensor de Pockels que entra em conta com as simetrias do tensor.
O campo eléctrico no átomo de H e seu valor (1012 V/m) como padrão para aferição do comportamento não linear da matéria (geração de osciladores electrónicos, regime linear e não linear).
Exemplos de alteração do elipsóide dos índices para vários materiais de vários grupos cristalográficos.
Utilização das relações matriciais no cálculo das variações da impermeabilidade.
Electroóptica: Atraso electroóptico. Tensão de meia onda.
 
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Moduladores electroópticos (conclusão). Coerência
BIBLIOGRAPHY
Yariv, cap. 5.4

Interferometria (JMR-1 & 2)

10 Novembro 2025, 11:00 • José Manuel Rebordão

Interferómetro de Michelson: alinhamento. Franjas versus geometria. Variação micrométrica de um dos espelhos com um micrómetro piezoeléctrico e/ou manual. Determinação do CDO do laser. Introdução de valores muito diferentes da OPD e apreciação visual da Visibilidade das franjas de interferência. Relação com a coerência da fonte laser.
Interferómetro de Mach-Zhender: alinhamento. Utilização com ondas esféricas e ondas planas (após colimação). Análise de chama de vela, ar aquecido turbulento, lâmina de faces (nominalmente) paralelas. As variações de fase mensuráveis como integrais de linha do OPD ao longo da direcção do feixe que trans-ilumina o objecto.
 
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Polarização: Leis de Brewster e de Malus. Identificação de lâminas de atraso
BIBLIOGRAPHY
Malacara, Optical Shop Testing

Lâminas de atraso. Electroóptica

10 Novembro 2025, 10:00 • José Manuel Rebordão

Alguns aspectos complementares relativos à utilização do elipsóide dos índices.
Lâminas de atraso: de meia onda e de quarto de onda. Exemplo: leitor de discos ópticos.
Conceitos breves: birrefringência circular, actividade óptica, efeito magnetoóptica e isoladores de Faraday.
 
Electroóptica - resumo dos conceitos básicos e alteração do elipsóide dos índices.
 
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Electroóptica. Materiais. Exemplos. Moduladores.
BIBLIOGRAPHY
Yariv, cap. 5.4